PUKYONG

개선된 심층 신경망 기반 오류진단 연구

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Alternative Title
A Study on the fault diagnosis based on improved deep convolutional neural network
Abstract
오류 진단은 제품 생산의 중요한 문제이다. 이는 대부분의 불안정한 요소를 발견할 수 있는 장점이 있고, 정확한 조치를 통해 손실을 줄이고 비용을 절약할 수 있는 방법이다. 최근에는 기계 학습(machine learning)의 연구들이 발전함에 따라 데이터 구동에 기반한 오류 진단기술이 이슈화 되고 있다. 딥 러닝기반의 컨볼루션 뉴런 네트워크(CNN: Convolutional Neural Network)의 강력한 추출 특성 능력은 오류 진단을 진행할 수 있는 방법으로 인식되고 있다. 그러나 CNN의 레벨들이 깊어지면서 숨겨진 유용한 정보들이 사라지는 문제점이 있어, 진단 성능을 떨어뜨리는 단점이 있다.
본 논문에서는 이러한 문제점을 극복하기 위해 CNN 에서 이전 계층에서 계산한 결과가 다음 계층에 더해지는 새로운 입력 계층을 추가하여 정확성을 높이고자 하였다. 따라서 제안된 방법을 적용하기 위해 본 연구는 3개의 공공 데이터를 사용하여 비교하였다. 테스트 데이터로는 베어링(bearing) 데이터, 반도체 제조 프로세스 데이터, APS 고장 데이터를 사용하였다. 3개 공공 데이터에 대한 실험 결과는 베어링의 정밀도가 100%, 반도체 제조 공예의 정밀도가 100%, APS 고장 데이터는 97.7%였다. 본 연구는 기존의 딥 러닝 기반인 Deep Belief Network(DBN)과 Deep Neural Network(DNN), 그리고Normal CNN 모델과 비교하여 제안된 방법은 입력 데이터를 간단하게 사용하고, 다른 예비 처리가 필요 없이 좋은 성능을 얻을 수 있음을 제시하고 있다.
Author(s)
SHAO XIAORUI
Issued Date
2019
Awarded Date
2019. 8
Type
Dissertation
Keyword
오류 진단 심도 학습 CNN
Publisher
부경대학교
URI
https://repository.pknu.ac.kr:8443/handle/2021.oak/23512
http://pknu.dcollection.net/common/orgView/200000223700
Affiliation
Pukyong National University Graduate School
Department
대학원 정보시스템협동과정
Advisor
Kim Changsoo
Table Of Contents
1. Chapter 1. Introduction 1
1.1. Study Background 1
1.2. Motivation 2
1.3. Thesis Research Objective 3
1.4. Structure of the Thesis 3
2. Chapter 2. Related research 5
2.1. Fault Diagnosis 5
2.2. Traditional Fault Diagnosis Method 5
2.3. Data-Driven Fault Diagnosis Method 6
2.3.1. Machine Learning Based method for Diagnosis 6
2.3.2. Deep Learning Based Fault Diagnosis Method 8
3. Chapter 3. Methodologies 12
3.1. Overview of Convolutional Neural Network 12
3.2. Typical Convolutional Neural Network 13
3.3. Proposed Improved Convolutional Neural Network for Fault Diagnosis 19
4. Chapter 4. Case Study 24
4.1. Case Study 1: Bearing fault diagnosis 24
4.1.1. Bearing Data Description 24
4.1.2. Bearing Fault Diagnosis Using Improved CNN 27
4.1.3. Comparing With Other Methods for Bearing Fault Diagnosis 37
4.2. Case Study 2: Semiconductor Manufacturing Process Fault Diagnosis 41
4.2.1. Semiconductor Manufacturing Process Data Description 41
4.2.2. Semiconductor Manufacturing Process Fault Detection Using Improved CNN 42
4.2.3. Comparing With Other Methods for Semiconductor Manufacturing Process 45
4.3. Case Study 3: Air Pressure System Failure Detection 46
4.3.1. Air Pressure System Data Description 46
4.3.2. Air Pressure Fault Detection Using improved CNN 47
4.3.3. Comparing With Other Methods for Air Pressure Fault Detection 48
5. Chapter 5. Conclusion 49
References 51
Acknowledgments 58
Degree
Master
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대학원 > 정보시스템협동과정
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